高溫高壓蒸煮儀的實驗過程一般分為幾個階段?
更新時間:2020-11-11 點擊次數:683次
高溫高壓蒸煮儀一般稱為PCT茄子视频污污試驗或是飽和蒸汽試驗,主要是將待測品置於嚴苛之溫度、飽和濕度(R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環境下測試,測試代測品耐高濕能力,針對印刷線路板(PCB&FPC),用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等試驗目的。如果待測品是半導體的話,則用來測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因汙染造成之短路.等相關問題。
高溫高壓蒸煮儀試驗(PCT)結構:茄子视频黄片APP由一個壓力容器組成,壓力容器包括一個能産生(潤濕)環境的水加熱器,待測品經過PINDAR品達環試PCT試驗所出現的不同失效可能是大量水氣凝結滲透所造成的。
澡盆曲線:澡盆曲線(Bathtubcurve、失效時期),又用稱為浴缸曲線、微笑曲線,主要是顯示產品的於不同時期的失效率,主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(隨機失效期)、損耗期(退化失效期),以環境試驗的可靠度茄子视频黄片APP來說得話,可以分爲篩選試驗、加速壽命試驗(耐久性試驗)及失效率試驗等。進行可靠性試驗時"試驗設計"、"試驗執行"及"試驗分析"應作爲一個整體來綜合考慮。
常見失效時期:早期失效期(早夭期,InfantMortalityRegion):不夠完善的生産、存在缺陷的材料、不合適的環境、不夠完善的設計。
隨機失效期(正常期,UsefulLifeRegion):外部震蕩、誤用、環境條件的變化波動、不良抗壓性能。
退化失效期(損耗期,WearoutRegion):氧化、疲勞老化、性能退化、腐蝕。
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